SCANOLOGY(Scantech) · 트래킹 3D 시스템
NimbleTrack-CR
산업 정밀 측정과 문화재의 미세 형상 취득을 함께 고려한 고해상도 무선 광학 추적 시스템입니다.
TECHNICAL SPECIFICATIONS
주요 사양
측정 정확도, 속도, 스캔 영역과 레이저 구성을 비교해 작업 조건에 맞는 모델을 선택할 수 있습니다.
정확도와 체적 정확도는 제조사가 제시한 평가 조건을 따릅니다. 실제 구성과 적용 가능 범위는 대상 크기·표면·환경·검사 기준에 따라 달라질 수 있습니다.
PRODUCT IN ACTION
제품과 측정 활용
제품 구성부터 현장 스캔, 3D 데이터 분석까지 실제 활용 흐름을 확인할 수 있습니다.
RELATED VIDEO
NimbleTrack-CR 제품 동영상
0.010 mm 고해상도 세부 형상 취득
최대 0.010 mm 해상도로 미세한 표면 형상과 작은 특징을 취득해 정밀 산업 부품과 문화재 기록에 활용합니다.
스캐너·트래커 무선 운용
스캐너와 트래커의 무선 연결로 대상 주변을 이동하며 여러 방향의 데이터를 연속 취득합니다.
검은색·반사 표면 대응
표면 상태에 맞는 광학 측정 설정을 적용해 어둡거나 반사가 있는 대상의 데이터 취득 안정성을 높입니다.
APPLICATION
주요 적용 분야
부품 크기와 형상, 표면 상태, 요구 정밀도에 따라 NimbleTrack-CR의 측정 모드와 운용 구성을 선택합니다.
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