SCANOLOGY(Scantech) · 프로빙 시스템
NimProbe
휴대형 i-Probe와 차세대 i-Tracker를 결합한 무선·경량 광학식 프로빙 시스템입니다. 소형부터 중형 부품의 홀, 모서리, 슬롯과 기하학적치수공차를 측정하며 프로빙과 스캐닝 데이터를 하나의 좌표계로 운용합니다.
TECHNICAL SPECIFICATIONS
주요 사양
측정 정확도, 속도, 스캔 영역과 레이저 구성을 비교해 작업 조건에 맞는 모델을 선택할 수 있습니다.
정확도와 체적 정확도는 제조사가 제시한 평가 조건을 따릅니다. 실제 구성과 적용 가능 범위는 대상 크기·표면·환경·검사 기준에 따라 달라질 수 있습니다.
PRODUCT IN ACTION
제품과 측정 활용
제품 구성부터 현장 스캔, 3D 데이터 분석까지 실제 활용 흐름을 확인할 수 있습니다.
i-Probe와 i-Tracker의 완전 무선 구성
i-Probe와 i-Tracker를 무선으로 연결해 케이블 설치 없이 접촉식 좌표 측정을 시작합니다.
접촉 프로빙과 대면적 3D 스캐닝 전환
접촉 프로빙과 광학식 3D 스캔을 동일 좌표계에서 전환해 기준 요소와 자유곡면을 함께 검사합니다.
500 mm 프로브를 이용한 깊은 홀과 가려진 형상 접근
500 mm 길이의 프로브로 깊은 홀, 가려진 점과 스캐너 광선이 직접 닿기 어려운 형상에 접근합니다.
실시간 위치 보상과 재배치 측정
트래커 위치를 변경한 뒤에도 좌표 관계를 이어가며 넓은 대상의 여러 구간을 연속 측정합니다.
APPLICATION
주요 적용 분야
부품 크기와 형상, 표면 상태, 요구 정밀도에 따라 NimProbe의 측정 모드와 운용 구성을 선택합니다.
START A CONVERSATION