SCANOLOGY(Scantech) · 프로빙 시스템
TrackProbe
i-Probe와 25 MP i-Tracker로 구성되는 대용량 광학식 3D 프로빙 시스템입니다. 대형 치구 정렬, 기준점 마킹과 기계 구조물의 치수·기하학적치수공차를 현장에서 측정합니다.
TECHNICAL SPECIFICATIONS
주요 사양
측정 정확도, 속도, 스캔 영역과 레이저 구성을 비교해 작업 조건에 맞는 모델을 선택할 수 있습니다.
정확도와 체적 정확도는 제조사가 제시한 평가 조건을 따릅니다. 실제 구성과 적용 가능 범위는 대상 크기·표면·환경·검사 기준에 따라 달라질 수 있습니다.
PRODUCT IN ACTION
제품과 측정 활용
제품 구성부터 현장 스캔, 3D 데이터 분석까지 실제 활용 흐름을 확인할 수 있습니다.
최대 10 m 장거리 대용량 프로빙
최대 10 m 측정 거리의 광학 추적으로 대형 치구와 구조물의 기준점, 홀과 모서리를 접촉 측정합니다.
500 mm 프로브를 이용한 깊은 홀·숨은 점 측정
500 mm i-Probe를 이용해 깊은 홀과 구조물 뒤쪽의 숨은 측정점에 접근합니다.
유선·무선 데이터 전송
현장 조건에 따라 유선 또는 무선 데이터 전송을 선택해 대형 작업 구역을 구성합니다.
스캔과 프로빙 좌표계 통합
i-Probe 접촉점과 광학 스캔 데이터를 동일 좌표계로 관리해 형상과 기준 요소를 함께 검토합니다.
APPLICATION
주요 적용 분야
부품 크기와 형상, 표면 상태, 요구 정밀도에 따라 TrackProbe의 측정 모드와 운용 구성을 선택합니다.
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